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晶體結構對鐵電測試儀測試結果的影響

更新時間:2025-03-17  |  點擊率:137
鐵電薄膜具有鐵電性且厚度在數(shù)十納米至數(shù)微米的薄膜材料,是一類重要的功能薄膜材料。與體材料一樣具有介電性、鐵電開關效應、壓電效應、熱釋電效應、電光效應、聲光效應、光折射效應和非線性光學效應等一系列特性。既可單獨利用上述諸效應制作出不同的功能器件,也可綜合利用兩個或兩個以上的效應制作多功能器件、集成器件或機敏器件。
鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進行電致應變測試,可以蝴蝶曲線功能,設備還可以擴展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。動態(tài)電滯回線測量-DHM、泄漏電流測量-LM、CV測量-CVM、疲勞測量-FM、保持力測量-RM、印記測量-IM、脈沖測量-PM、靜態(tài)電滯回線測量-SHM、擊穿電壓測量-BDM等,對于評估鐵電材料的性能以及優(yōu)化器件設計具有重要意義。
同一種材料,單晶體和多晶體的電滯回線是不同的。如單晶體的電滯回線很接近于矩形,P和P很接近,而且P較高;陶瓷的電滯回線中P與P相差較多,表明陶瓷多晶體不易成為單疇,即不易定向排列。